10098,23%0,15
32,38% -0,13
34,76% -0,11
2410,35% -1,00
3868,40% -0,99
Erciyes Üniversitesi Teknoloji Araştırma ve Uygulama Merkezi (TAUM)'a, X Işınları Toz Difraktometre Cihazı (XRD) alındı.
Erciyes Üniversitesi Teknoloji Araştırma ve Uygulama Merkezi (TAUM)'a, X Işınları Toz Difraktometre Cihazı (XRD) alındı. Üniversite imkânları ile temin edilen ve Kayseri'de tek olan yeni cihaz, çimento ve ilaç sanayi, gıda sektörü, madencilik ve endüstriyel uygulamalar ile kalite kontrol ölçümlerinde sadece Erciyes Üniversitesi'ndeki araştırmacılara değil, üniversite dışındaki araştırmacılara da hizmet verecek.
Yeni cihazla ilgili TAUM'da düzenlenen tanıtım toplantısında konuşan TAUM Müdürü Prof. Dr. Uğur Şahin, X Işınları Toz Difraktometre (XRD) cihazının bu yıl TAUM'a kazandırılan ikinci büyük cihaz olduğunu kaydetti. Prof. Dr. Şahin, "Yeni cihaz Erciyes Üniversitesi ve diğer üniversitelerin araştırmacılarına, Kayseri bölgesinde yer alan sanayici ve madencilere hizmet verecek şekilde tercih edilmiştir. Yani, hem araştırmacılara, hem de üniversite sanayi işbirliği kapsamında diğer sektörlerde hizmet verecektir. Cihazımızın kütüphanesinde yaklaşık 546 bin bileşik olduğundan yeni sentezlenmiş bileşiklerin yapısının aydınlatılması rahatlıkla yapılabilmektedir. Ayrıca cihazımız gelişmiş 3. nesil dedektörü sayesinde, yüksek veri toplama kapasitesine sahip olup, çok küçük pikleri dahi dedekte edebilmektedir. Cihazımızla yapılabilecek uygulamalara kısaca bakarsak, cihazla şu analizler yapılabilmektedir. Kristal yapılarının belirlenmesi; çimento sanayi için dolgu maddesi olarak kullanılan cürufların kalitesinin ve polimerlerin üretimindeki kalitenin belirlenmesinde kullanılacak. Yeni ilaç faz geçişleri denetleme, polimerlerde yaşlanma sürecinin araştırılması ve böbrek taşlarının analizlerinde kullanılacak. Gıda sektöründe; gıda koruyucular için, cam kaplama kalınlığının belirlenmesi ve malzeme araştırmalarında tabaka kalınlığı ve ara yüz analizlerinde kullanılacak. Madencilik ve endüstriyel uygulamalarda; jeolojik oluşumlardaki minarelerin, çelik içindeki östenit miktarının, pigmentlerin içindeki titanyum oksitlerinin anatas- rutil dönüşüm miktarının bulunmasında kullanılacak. Ayrıca kalite kontrol amacıyla katalizör ve zeolitlerde kristal boyutunun, döküm sektöründe alüminyum içindeki C tane boyutunun kristal boyutunun, belirlenerek mikro çatlakların oluşmasının tahmin edilmesi ve elektronik cihazlar için süper yapıların özelliklerinin tayini, malzeme araştırmalarında kullanılan malzemelerin saflık dercesinin belirlenmesinde, mikro difraksiyon ile cam içindeki kalıntıların analizinde malzeme yüzeyindeki kalıntı miktarı ve şeklinin ölçülebilmesinde kullanılacak" dedi.
Üniversite imkanları ile alınan ve yaklaşık 2 milyon TL'ye mal olan cihazla ilgili Rektör Prof. Dr. Mustafa Çalış ise şunları söyledi:
"TAUM'da yeni nesil cihazımızı faaliyete geçirme konusunda güzel bir gün yaşıyoruz. Gerçekten araştırma alt yapımız çok kuvvetli Erciyes Üniversitemizin. İnşallah bu cihaz da üniversitemizin araştırma alt yapısına katkı sağlayacak. TAUM tüm araştırmacılarımıza, sanayicilerimize açık bir merkezimiz. İşbirliklerimizi artıracak. Birçok çalışmalarda bu cihazlardan faydalanacağız. Araştırma üniversitemizi daha yükseklere çıkarma konusunda tüm yapılan bu faaliyetler, bu cihazlar, bu merkezlerimiz amiral görevi görüyor. Hayırlı olmasını diliyorum."
TAUM binasında gerçekleştirilen cihaz tanıtımında Rektör Prof. Dr. Mustafa Çalış'a, Rektör Yardımcıları Prof. Dr. Murat Borlu ve Prof. Dr. Recai Kılıç ile Genel Sekreter Öğr. Gör. Murat Yenisu eşlik etti.
